[seminar] Podsjetnik na DANAŠNJE predstavljanje projekta SIZIF na IF-u u 11:00 - Centar za mikro i nanoznanosti i tehnologije, Sveučilište u Rijeci

[Damir Staresinic]

Institut za fiziku, Bijenička cesta 46, 

predavaonica u zgradi Mladen Paić 

ponedjeljak, 27. lipnja 2016., u 11:00 sati 


Predstavljanje projekta SIZIF 


Iva Šarić, Ivna Kavre Piltaver, Robert Peter i Mladen Petravić 





Centar za mikro i nanoznanosti i tehnologije, Sveučilište u Rijeci 





Centru za mikro i nanoznanosti i tehnologije Sveučilišta u Rijeci odobren je projekt S tjecanje I straživačke i Z nanstvene I zvrsnosti u F unkcionalizaciji biomedicinskih materijala ( SIZIF ) u sklopu Europskog socijalnog fonda i programa Istraživačke stipendije za profesionalni razvoj mladih istraživača i poslijedoktoranada. Cilj projekta SIZIF je jačanje eksperimentalne i znanstvene izvrsnosti, te međunarodnog umrežavanja mladih znanstvenika kroz relevantno i konkurentno znanstveno istraživanje. U sklopu projekta se troje poslijedoktoranada osposobljava za samostalnu provedbu istraživanja vezanog uz primjenu nanoznanosti na funkcionalizaciju biomedicinskih materijala, uz uporabu sofisticiranih tehnika za narastanje, modifikaciju i analizu uzoraka, dobivenih u sklopu EU projekta RISK. 

Među opremom koja se koristi u projektu SIZIF je i nekoliko kapitalnih istraživačkih instrumenata jedinstvenih ne samo u Hrvatskoj već i u ovom dijelu Europe. Istraživači uključeni u projekt predstavit će znanstvenu komponentu istraživanja i novu opremu koju koriste. 

a) SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometer, Maseni spektrometar sekundarnih iona), tehniku za elementnu analizu i mjerenje ultraniskih koncentracija primjesa i nečistoća u različitim materijalima s posebno značajnom primjenom u fizici poluvodiča i poluvodičkoj tehnologiji; 

b) ALD (Atomic Layer Deposition, Depozicija atomskih slojeva), tehnika za narastanje tankih filmova superiornih karakteristika s primjenama u poluvodičkoj industriji, medicini, konverziji sunčeve energije, pohranjivanju energije, antikorozivnoj zaštiti i sl.; 

c) SEM (Scanning Electron Microscope, Pretražni elektronski mikroskop), uređaj za strukturnu analizu uzoraka, s velikim povećanjem i rezolucijom od 0,7 nm. Uz SEM dobivamo i jedinstvenu grupu naprednih tehnika za pripremu uzoraka. 








Voditelji seminara IF-a: Nataša Vujičić i Damir Starešinić 




-------------- next part --------------
An HTML attachment was scrubbed...
URL: <http://www.phy.pmf.unizg.hr/pipermail/seminar/attachments/20160627/e8f602f9/attachment-0001.html>
-------------- next part --------------
A non-text attachment was scrubbed...
Name: clip_image002.jpg
Type: image/jpeg
Size: 9859 bytes
Desc: not available
URL: <http://www.phy.pmf.unizg.hr/pipermail/seminar/attachments/20160627/e8f602f9/attachment-0001.jpg>